1 引言

嵌入式设备已经在工业市场、自控市场以及国防建设等领域得到了广泛的应用，而且随着数字化产品时代的到来，大量硬件结构日趋复杂、功能日益强大的嵌入式系统不断进入人们的日常生活。这对嵌入式软件的开发和测试技术提出了新的挑战。在嵌入式系统中，软件占据了较大的比重，而软件测试技术成为保障软件质量最直接、最有效的手段之一。但是由于嵌入式软件本身的复杂性和不确定性，尤其是软件与硬件的紧密结合，一般的软件测试技术的实施具有较大的难度，因此．对于嵌入式软件需要有一种较为全面通用的分析测试方法，来检测软件在不同阶段的结果，以便尽可能早的发现错误。 FEmb是一种方法，它能够为特定的嵌入式系统组合出恰当的测试方法。它提供了一种机制，可以从适用于任何测试项目的通用元素和一组相关的特定方法中组合出专用测试方法，这组特定方法与所观察到的嵌入式系统的系统特性相关联。

目前广泛使用的软件测试模型V模型是普遍采用的模型，将开发和测试分为不同的阶段，并对每一个阶段有针对性地测试，TEmb方法的通用元素之一--生命周期，就是将开发和测试过程划分为不同的阶段。但是忽视了开发活动和测试活动是并行进行的，为了弥补V模型的不足，该文提出了一个改进的V模型．结合TEmb方法得出通用的嵌入式软件测试方法。

2 TEmb方法概述

对任何嵌入式系统而言，测试方法的基础都是由通用元素组成的，这些通用元素是任何结构化测试的组成部分。比如，根据一定的生命周期来计划测试项目、采用标准化技术、专用的测试环境、组织测试团队和编写正式测试报告等。他们都与结构化测试的四个要素相关，即生命周期、基础设施、技术和组织。

每种实际应用的嵌入式软件的测试都互不相同，不可能存在一种通用的测试方法。但每一种测试方法都存在基本测试原理，即相似的问题和相似的解决方法，这些"基本测试原理"与特定方法相结合，即构成了特定嵌入式系统的结构化的测试方法。这种通用元素结合特定方法组成恰当的专用测试方法的方法称为TEMB方法(TestingEmbedded)。如图l所示。

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