引言最新的嵌入式设计为各行各业及各种应用提供了大量复杂的新产品和新服务。由于精简成本的限制及提高性能的预期，嵌入式设计正在为各种包括家电、工具、建筑、服装及我们周围几乎所有物品在内的日常应用提供更小、更经济的解决方案。这些嵌入式设计通常由一个微控制器和各种二级接口构成，如电源。能够放心且迅速简便地选择电源的元器件对提供可靠的更小、更经济的解决方案至关重要。为实现这一目标，需要使用直观的测试测量工具
引言
最新的嵌入式设计为各行各业及各种应用提供了大量复杂的新产品和新服务。由于精简成本的限制及提高性能的预期，嵌入式设计正在为各种包括家电、工具、建筑、服装及我们周围几乎所有物品在内的日常应用提供更小、更经济的解决方案。
这些嵌入式设计通常由一个微控制器和各种二级接口构成，如电源。能够放心且迅速简便地选择电源的元器件对提供可靠的更小、更经济的解决方案至关重要。为实现这一目标，需要使用直观的测试测量工具，快速获得优化结果。本文重点介绍了电源分析的实际应用，采用特定测量技术更加高效地选择和确定相应的元器件。
电源分析
在本例中，我们要为开关电源选择最好的电源FET。晶体管的总功率损耗主要是开关损耗，但开关损耗计算起来要困难得多。我们可以根据FET的电流和开点电阻，相对简便地计算开关电源的静态损耗。
因为成本和功率损耗是一对矛盾，而我们的目标是选择成本最低的部件，其总功耗不超过0.5 W。在这里，我们预先确定要测试的四个晶体管。
图1是标准开关电源的方框图。我们使用差分探头测量流经晶体管的电压，并使用电流探头测量流经晶体管的电流。接下来，我们将考察使用这一测试设备测得的开关损耗。
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