集成电路（IC）是利用半导体工艺或厚膜、薄膜工艺，将电阻、电容、二极管、三极管、场效应管等元器件按照设计要求连接起来，制作在同一硅片上，形成一个具有特定功能的电路。集成电路具有体积小、重量轻、功耗小、性能好、可靠性高、电路稳定等优点，被广泛应用于电子产品中。

一、集成电路分类

1. 按功能分类
集成电路按功能可分为数字集成电路和模拟集成电路。
模拟集成电路有：运算放大器、功率放大器；音响电视电路、模拟乘法器；模/数和数/模转换器；稳压电源等许多种。其中集成运算放大器是最为通用、品种和数量最为广泛的一种。
数字集成电路中，小规模集成电路有多种门电路，即非门、或门等；中规模集成电路（数百个门）有数据选择器、编/译码器、触发器、计数器、寄存器等；大规模（数万个门）或超大规模集成电路有可编程逻辑器件（PLD）和专用集成电路（ASIC）等。
2. 按芯片工艺及性能分类
集成电路按制造工艺，可以分为半导体集成电路、薄膜集成电路、厚膜集成电路和混合集成电路；在数字集成电路中，根据芯片的工艺设计以及性能，分为TTL系列、CMOS系列、ECL系列。其中TTL系列可满足一般场合的需要；ECL系列可满足低电压高速度应用；而CMOS系列则常用于低功耗的系统中。
集成电路的检测
1. 电阻法
通过测量集成电路各引脚对地正、反向电阻，与器件参考资料或另一块好的集成电路进行比较，从而作出判断。
当含有集成器件的印制电路单元功能不正常，又没有对比资料的情况下，只能使用间接电阻法测量，即通过测量集成电路引脚外围元件（如电阻、电容、三极管）好坏，以“排除法”来判断。若外围元件没有损坏，则集成电路有可能损坏。
2. 电压法
测量集成电路引脚对地的动、静态电压，与线路图或其它资料所提供的参考电压进行比较，若引脚电压有较大差别，其外围元件又没有损坏，则集成电路有可能损坏。
3. 波形法
用示波器测量集成电路各引脚波形是否与原设计相符，若发现有较大区别，其外围元件又没有损坏，则集成电路有可能损坏。
4. 替换法
用相同的型号集成电路替换试验，若电路恢复正常，则集成电路已损坏。

二、集成电路引脚识别

找到集成电路的第一脚，逆时针转圈数引脚。